XRF-350B是一款高性能RoHS元素分析仪，专门用于RoHS卤素检测，与普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告； XRF-350B采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更精确，更稳定。
一、XRF-350B机型指标介绍
1.1 工作条件
工作温度：15-30℃
相对湿度：40%～50%
电 源：AC :220V ±5V
1.2 技术性能及指标:
1.2.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
1.2.2 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
1.2.3 测量时间：100-300秒；
1.2.4 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度最高达1PPM；
1.2.5 能量分辨率为160±5电子伏特；
1.2.6 温度适应范围为15℃至30℃；
1.2.7 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
1.3 产品特点
1.3.1 XRF-350B是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。
1.3.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。
1.3.3采用美国最新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。
1.3.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。
1.3.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。
1.3.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。
1.3.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品最高级。
1.3.8先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。
1.3.9独有的机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
1.3.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。
1.3.11ROHS专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。
1.3.12本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。
二、仪器硬件部分主要配置
2.1 Si-pin电制冷半导体探测器（最新型探测器）
2.1.1 Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率：160±5电子伏特
2.1.2 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。
2.2 X射线激发装置
2.2.1 灯丝电流最大输出：1mA；
2.2.2 属于半损耗型部件，50W，空冷。
2.3 高压发射装置
2.3.1 电压最大输出： 50kV；
2.3.2 最小5kv可控调节
2.3.3 自带电压过载保护
2.4 多道分析器
2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。
2.4.2 最大道数： 4096；
2.4.3 包含信号增强处理
2.5 光路过滤模块
2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。
2.5.2 将准直器与滤光处整合；
2.6 准直器自动切换模块
2.6.1 多达8种选择，口径分别为8＃, 6＃, 4＃, 3＃，2＃, 1＃, 0.5＃,0.2＃。
2.7 滤光片自动切换模块
2.7.1 六种滤光片的自由选择和切换。
2.8 工作曲线自动选择模块
2.8.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化，演绎得更完美，使操作更人性，更方便。
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